产品介绍 蔡司
三坐标CONTURAG2为您带来灵活、可靠的品质保证。 蔡司三坐标CONTURAG2是一机多用的扫描平台。
物超所值的CONTURAG2非常适合中小型生产企业,其扫描技术可以高密度处理数据。利用VAST扫描技术使工件的形状检验可以**快速获得高品质和测量结果。可及早发现加工中的变化,确保产品质量并将废品率降至**低程度。
重要特征 坚固耐用的
机械设计 ? X轴与Z轴采用
陶瓷材料制成,具有良好的刚性,可以保护设备不受生产环境所造成的影响。 ?
三轴均采用四面环抱
气浮轴承,可在高速行进时保持稳定性。 机器技术 ? CONTURA G2
direkt:蔡司扫描技术的入门级机型,配置VAST XXT扫描探头,可测量多种工件。 ? CONTURA G2
RDS:蔡司RDS配置VAST XXT扫描探头,可自由快速旋转探针,扫描范围可达到任何角度位置。 ? CONTURA G2
aktiv:具有自定心功能,可测量深孔元素,对尺寸,形状及位置的高可靠性测量,主要得益于灵活的VAST XT探头技术。 选项
采用U-STONE技术,将测量有效高度提升200mm,扩大Z轴测量空间设备的探针更换架具有非常高的更换重复精度,无须再次校准。
采用HTG(宽温带)机型,可以在较宽的温度范围内达到相同的测量精度。 主动式测针适用于快速更换架选项。
使用蔡司AirSaver功能可节省60%压缩气体用量。 蔡司三坐标CONTURA G2测量范围: 质量的源动力 CONTURA
G3是蔡司于2012年发布的新一代测量平台,采用了蔡司**新的核心测量技术,带来灵活地测量体验,是您现代生产过程中的质量保证。蔡司研发的CALYPSO是基于空间CAD的测量软件,具有兼容性高,简单易用等优点,能为您提供全面的测量解决方案。
针对大型复杂工件 CONTURA G3在其范围内均具有稳定的测量精度。Z向**大测量范围从800毫米到1000毫米,CONTURA
G3**大的测量平台具有1200*2400*1000毫米的测量空间。这样,在不影响测量的同时,您还有足够的空间放置工件
夹具及探头更换架等测量配件。
可靠的结果 CONTURA
G3使用的旋转探头座具有蔡司RDS-CAA功能,只需简单的标定,即可实现20736个空间位置的自如使用,为未知的空间测量任务提供了无限可能。
搭配蔡司VAST-XXT 扫描探头更是您测量工作的好帮手,不仅可以测量工件的尺寸误差,还可以测量工件的形状误差。
测量可以如此简单-CALYPSO CONTURA G3
配备了CALYPSO测量软件,是蔡司基于空间CAD技术,专为标准几何体及自由曲面测量而开发的。经由德国标准研究院(PTB)认证。具有超强的易用性、灵活性及响应性,用户只需接受简单培训即可进行测量操作。
蔡司成熟的硬件技术 轻巧、高速CONTURA
G3的桥架采用钢铝结构,在减轻自重的同时具有极好的刚性。铝质部件上的CARAT
涂层确保了温度稳定性及使用寿命。整体设计减轻了运动结构的重量、实现了更高的动态性能。
**新设计的气浮轴承
新设计的空气轴承从结构上保证了机器的长期稳定运行,同时极大地降低了耗气量。机器运动部分**的刚性确保了扫描结果的真实可靠。 极高性价比
我们的目标是提供一个恰当的解决方案:CONTURA
G3结合蔡司扫描技术,拥有**的稳定性和可靠性,多种平台尺寸为您提供灵活地选择。适中的价格和经济的产品使用成本给您带来额外收益。
CONTURA G2 CONTURA G2
三坐标测量机 CONTURA G2:超值的高水平测量技术 一机多用的扫描平台
物超所值的CONTURA
G2非常适合中小型生产企业,其扫描技术可以高密度处理数据。利用VAST扫描技术使工件的形状检验可以**快速获得高品质和测量结果。可及早发现加工中的变化,确保产品质量并将废品率降至程度。
重要特征 CONTURA G2 direkt CONTURA G2 RDS CONTURA G2 aktiv 坚固耐用的机械设计 ?
X轴与Z轴采用陶瓷材料制成,具有良好的刚性,可以保护设备不受生产环境所造成的影响 ?
三轴均采用四面环抱气浮轴承,可在高速行进时保持稳定性 机器技术 ? CONTURA G2
direkt:蔡司扫描技术的入门级机型,配置VAST XXT扫描探头,可测量多种工件 ? CONTURA G2 RDS:
蔡司RDS配置VAST XXT扫描探头,可自由快速旋转探针,扫描范围可达到任何角度位置 ? CONTURA G2 aktiv:
具有自定心功能,可测量深孔元素,对尺寸,形状及位置的高可靠性测量,主要得益于灵活的VAST XT探头技术 选项 传感器架 HTG机型
Z轴扩大空间 ? 设备的探针更换架具有非常高的更换重复精度,无须再次校准 ?
采用HTG(宽温带)机型,可以在较宽的温度范围内达到相同的测量精度 ?
采用U-STONE技术,将测量有效高度提升200mm,扩大Z轴测量空间