美国进口UPA ，VEECOβ射线镀层测厚仪，β-射线测厚仪（B-射线测厚仪）beta射线测厚仪,贝它测厚仪
可测多镀层厚度，
β-射线无损测厚仪
可选配不同的放射源及探头，
广泛用于PCB及五金电镀行业，基本型MP-700:可测量一般的金属镀层,如AU,AG,SN-PB,CU,等。加强型MP-900:增加可测镍的功能
美国 UPA Micro-Derm 镀层和涂层测厚仪MP-900
＊β射线反向散射测量技术
＊依照标准ASTM B567，ISO/DOS 3543和DIN 50 983的准则
＊应用在测量许多经典结构的镀层厚度，包括镍上镀金(Au/Ni),环氧树脂镀铜(Cu/epoxy)，光致抗蚀剂photoresist，铜上镀银(Ag/Cu)，科瓦铁钴镍合金上镀锡Sn/kovar，铁上镀氮化钛Ti-N/Fe，锡铅合金Sn-Pb。
＊ Micro-Derm MP-900可以利用霍尔效应技术测量铜上镀镍(Ni/Cu)的厚度。
＊探头系统可以用于精确测量各种样品表面，从小零件(连接器和端子)到大零件(印制线路板)。
Micro-Derm BBS厚度标准片(4点设定)包括：纯材料的底材，表面镀层的纯材料无限厚片和两块经过NIST(美国联邦标准技术委员会)认证的标准厚度的薄片。
高质量的制造技术确保尽可能精确的镀层厚度测量。
设计体现了无与伦比的易操作性和高效率。
第二页：
TESTING INSTRUMENTATION
Micro-Derm MP-900
只有MP900融合了β射线反向散射和霍尔效应测量技术。避免了因为存在两种需要而购买了两种仪器的麻烦。
＊紧凑的设计
＊全面的测量能力
＊经济的X射线荧光分析仪器的替代品
＊提高生产量
＊45种标准档案记忆允许用户快速的进行应用转换。
＊独特的NOVRAM 设计使得即使在备用电源断电时仍可以保留有价值的校准档案。
＊标准校准模式：4点，3点，2点，线性，多点和Sn-Pb.
＊特殊的多点Sn-Pb校准模式可以对不同的Sn-Pb组分进行自动补偿和修正。
＊新的3点BBS模式并不需要纯材料镀膜标准片。
＊多点校正模式应用于霍尔效应测量(测量镍厚)。
CMS
D-3000 PLUS
D-3000
Dermitron D-1500 D-3
