MC-2000(A、C、D)型涂(镀)层测厚仪是高新技术的结晶,它采用单片机技术,精度 |
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高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、无校正旋钮、单探头全量程测量、体 | |
积小、重量轻;且具有存储、读出、低电压指示、其性能达到当代国际同类仪器的先进水 | |
平。 | |
一、应用范围: | |
本仪器采用磁性测厚法,可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层 | |
或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、 | |
喷塑、搪瓷、塑料等行业。 | |
二、工作原理 : | |
MC-2000(A、C、D)涂(镀)层测厚仪采用电磁感应法测量涂(镀)层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合 | |
的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变 | |
化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂(镀)层厚度。 | |
三、技术参数: | |
1、测量范围 :(A型0—1500μm:C型0—5000μm:D型10—9000μm) | |
2、测量误差: <3%+1μm | |
3、**小示值: 1μm | |
4、显示方式 : 4位液晶数字显示 | |
5、主要功能: | |
(1).测量: 单探头全量程测厚 (2).存储: 可存入测量数据254个 (3).读:读出已存入测量数据 | |
(4).校正: 随机标准试片校正 (5).打印: 选配微型打印机 | |
6、基体**小厚度: 0.2mm,基体**小平面: 7mm,**小曲率半径: 凸:1.5mm 凹:6mm | |
临界厚度小:工件铁基厚度大于1mm时,其涂(镀)层厚度的测量不受铁基厚度影响。 |