Upad X300     

Upad X系列: 功能完备 性能超群

Upad X 系列超声波测厚仪将“无需去除涂层”及“”发挥到极致；同时兼顾可靠性、性能与耐用性，无论您在何处检测，X 系列超声波测厚仪都是您**值得信任、**卖力工作的伙伴。X系列智能地结合了**先进的自动实时探头零点校准技术，解决了探头磨损、更换探头或高温测量时的零点误差；回波-回波检测技术的应用使检测精度趋近**，消除了材料上油漆等保护层影响，同时极大地提高生产效率。这种创新的测厚仪会提供给用户超凡的使用体验。
适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。

功能

强大的穿透涂层测厚功能使您免除辛苦打磨的繁琐准备工作，只需略微处理涂层表面就可以实现轻松测厚

先进的探头零点实时自动校准技术，跟踪世界**新技术潮流。免除您手动校准探头零点的烦恼，更解决了探头零点漂移造成的测量误差，保证测值准确,摆脱对标准试块的依赖。

USB接口可插入U盘，无需驱动，即插即用，实现厚度报告

前所未有的海量存储，引领技术潮流。可保存1000组数据，每组可以保存1000个数据，卓然超群，前所未有。

测量过程中在线统计：**大、**小、标准偏差；数据文件统计：**大/小值、均值、均方差

具有探头连接状态指示功能;提示信号耦合强弱；测值显示实心/空心变化,直观指示耦合情况是否能正常测量
性能

高精度的测量电路保证在整个测量范围内都为0.1/0.01mm或0.01/0.001inch的分辨率

操作

精致的界面可同时显示三种测量数据，同时，数据组号，数据序号，上下限阈值一目了然

去除涂层示意测量界面

测量界面精简显示界面

精简显示界面菜单界面

菜单界面 去除涂层