抗干扰全自动介质损耗测试仪
用于测量各种高压电力设备的介质损耗(tgδ)及电容量(Cx)。替代QSI型电桥。
主要特点:内附PT和高压标准电容使接线简单。
采用光电耦合数据采样测试原理,将矢量运算与移相、倒相法相结合,能强力有效地消除电场干扰。现场适用和适应能力**强**好。在同类型产品中,性能**好,价格**实在。
主要技术指标:
高压输出:2kV、5kV、10kV
PT容量:1kVA
量程:tgδ<50% 30pF<Cx<60000pF
介损测量范围:0.1 ~100%
分辨率:tgδ:0.01% Cx:0.1pF
准确度:tgδ1%±0.05% 电容C1%
**误差: tgδ0.03%