介电常数测试仪.介质损耗测仪 介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT
1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法
介电常数介质损耗试验仪概述
GDAT高频 Q 表作为**新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内**高的160MHz。
测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。
，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。
DDS 数字直接合成的信号源
-确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。
把它存放在干燥器内，于室温下至少8h才可作进一步试验。老化容器容积至少为5L。压力容器在试验温度下经1000h后允许有不大于5%的水损失。
频率指示误差 3 × 10 -5 ± 1
个字
自动化测量技术 -对测试件实施 Q
值、谐振点频率和电容的自动测量。
pH计应具有至少±0.05pH的准确度。程序概述，本试验的原理，把由模塑热固材料制成的试样浸于不同温度的水中并保持不同时间。
该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得绝缘材料的损耗角正切值。
信号源频率覆盖范围 100kHz ～
160MHz
由高温固化树脂制备的试样，应按制造厂推荐的条件进行处理，以便获得固化完全的试样。试样经高温固化、室温下或在干燥器内正常化处理后。
经惰性试验后没得的该去离子水的pH值不应从7.0±0.5变化到大于7.0±1.5，其电导率应不超过500~1000范围。
试样处理由室温固化树脂制备的试样，应按GB/T10580-2003在室温下存放24h，**后在80℃下固化24h。
介电常数介质损耗试验仪概述
gdat高频Q表的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了**的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具
双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。
应立即进行试验，浸水后，试样应在60℃±2℃、**压力小于100Pa下干燥48h，然后在进行下一次试验之前。
工作误差 ≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ），
≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至**低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
由室温固化反应树脂制备的试样可以在由铝箔覆盖的玻璃容器内老化。使用压力容器应遵守我国法律和法令。
Q 值测量范围 2 ～ 1023 ， 量程分档： 30 、 100 、 300
、 1000 ，自动换档或手动换档
选择老化容器材料时，应使老化容器能满足下述惰性试验的要求：根据支离子水就被加热到**高试验温度140℃±2℃并持续1000h。
至少应试验3个试样，对于未经浸水处理的热固性模塑树脂，应试验10个试样。除另有规定外，试样尺寸应符号GB/T1040.2-2006中的1B型要求。
全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q
值、信号源频率、谐振指针。
GDAT高频 Q 表采用了多项**技术：
从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。
概述主电容调节准确度 100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ±
1 ％
主电容调节范围 18 ～
220pF 
电感测量范围 4.5nH ～ 140mH
BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据精确。
BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。
温度测量装置，应该采用符合GB/T16839.1-1997和GB/T16839.2-1997的热电偶测量老化容器或玻璃容器内部的温度。
频率分段 （ 虚拟 ） 100 ～ 999.999kHz ， 1 ～
9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz
固有误差 ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz
）， ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。
搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用
双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
电容直接测量范围 1 ～ 200pF
主要技术特性 计算机自动修正技术和测试回路**优化 —使测试回路
残余电感减至**低，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
D916介质损耗测试装置技术特性电容器： 极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选
极片间距可调范围：≥15mm
夹具插头间距：25mm±0.01mm
夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz）
测微杆分辨率：0.001mm
电感：线圈号 测试频率
Q值 分布电容p
电感值
9
100KHz
98
9.4
25mH
8
400KHz
138
11.4 4.87mH
7
400KHz 202
16
0.99mH
6
1MHz
196
13
252μH
5
2MHz
198
8.7 49.8μH
4
4.5MHz 231
7
10μH
3
12MHz 193
6.9 2.49μH
2
12MHz 229
6.4 0.508μH
1 25MHz，50MHz
233，211 0.9
0.125μH
北广公司其它绝缘材料检测仪器:
BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪
BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪
BDJC系列电压介电强度试验仪器
BDJC系列 电压击穿试验仪
BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪
BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪
EST-121 体积表面电阻率测定仪
GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪
GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪
BDH 耐漏电起痕试验仪
BDH-B耐电弧试验仪
