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【技术特点】-- SPECTRO ARCOS全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪
一维色散+32个CCD检测器设计,检测器无需超低温冷却,无需氩气吹扫保护
全波长覆盖,130~770nm的波长范围,可分析ppm级卤素
专利密闭充氩循环光路系统,检测190nm以下谱线,无需气体吹扫
3秒实现真正全谱数据采集,分析速度快
所有气体流量采用质量流量计计算机控制,矩管位置3维步进马达计算机控制自动化程度高
SPECTRO ARCOS
——高分辨率全谱直读ICP-CCD光谱仪
可广泛适用于科研、冶金、机械、石化、环保、食品、地质、生化等愈来愈复杂的元素分析需求
作为一种快速、简便和精确的分析工具与手段,ICP-OES(电感耦合等离子体发射光谱仪)被广泛地应用在各种元素分析的领域。然而,目前商品化的ICP-OES,由于其内在结构和性能的局限,无法满足愈来愈复杂的元素分析需求。SPECTRO
ARCOS以其独具匠心的创新性设计,可极好的满足研发、工业、环保、石化、地质、生化等领域的用户需要,尤其适合复杂基体样品的分析。
从SPECTRO
ARCOS独特的外观上即可得知它出类拔萃的性能:极富特色的光学系统在保证**佳分辨率的基础上,可达到优异的稳定性和准确度。
SPECTRO
ARCOS可以方便的安装在任何实验室中,仪器的表面经过特殊的防腐处理,而且在整个进样室内部也覆盖有耐强腐蚀液体的保护膜。所有的部件和水电气接头都分别独立放置,无须使用者拆装仪器,维护和保养更加方便。
SPECTRO
ARCOS提供两种观测模式:轴向(水平)观测和径向(垂直)观测,新的帕邢-龙格光学系统在130nm到340nm波长范围内均可保持恒定的分辨率。
光学系统
优化的帕邢-龙格光学系统,再加上由铝合金所铸造的基座,为ICP技术创造了一个里程碑,它拥有史无前例的性能,在130nm到340nm光谱范围里像素分辨率是3pm,340nm或以上的光谱范围里像素是6pm。这种固定的分辨率值只能在帕邢-龙格光学系统上实现,它的优势在于能够以高分辨率的模式分析复杂基体(富谱线光谱),从而改善测量的精度。
值得一提的是,帕邢-龙格光学系统能在130nm到770nm光谱范围里,进行一级光谱的全图谱数据采集,就算是在远紫外区也能得到良好的灵敏度,这对于卤素测试,痕量元素分析,或是一些在远紫外区谱线灵敏度比较好的元素,都帮助很大。对于复杂基体的分析,通过选择在远紫外区不受干扰的谱线进行分析,可简化方法建立的流程和提高分析的精确度。
远紫外区光学系统
光室采用氩气循环的方式,并装备有有净化装置的隔膜泵,保证了远紫外区域分析的灵敏度和仪器的长期稳定性,避免了使用吹扫——光室气氛不稳定,或真空装置——光学元件易被污染的问题。
在远紫外区光学系统(UV-PLUS)里,不使用吹扫或真空装置,因此无须更换或清洁任何光学器件,所以远紫外区光学系统不需任何维护。
除了能在130nm到180nm这个远紫外区光谱范围里高灵敏度分析,它还可大幅度降低运行成本,在整个仪器使用周期里,与吹扫装置的ICP相比,远紫外区光学系统(UV-PLUS)可节省相当于三分之一的仪器采购成本。
SPECTRO
ARCOS的优越之处包括全新的、长寿命、免维护的陶瓷管固态发生器,波长范围可达到130nm的远紫外区光学系统,动态范围可达到8个量级的数据处理器,以及高达10Hz的测量频率。
专利的智能逻辑校正系统ICAL持续监控SPECTRO ARCOS的工作状况,确保仪器在**佳的状态下运行。
图形化操作界面的SMART ANALYZER
VISION操作软件,具有高度灵活的、清晰的架构,操作简单,无论是按照规范去定义测试流程,数据重处理还是自行建立方法,直观的操作界面一定让使用者得心应手,该软件可让SPECTRO
ARCOS完全满足国家或行业的法规和需求。
本软件的其他功能包括,自动存储分析方法,瞬间测量和自动优化。
检测器与数据读出系统
SPECTRO
ARCOS使用32个线性检测器在130nm到770nm光谱范围进行一级光谱的全谱数据采集,与其他采用CCD检测器的ICP相比,SPECTRO
ARCOS的检测器在实现极低的暗电流噪声基础上,将工作温度设定为15℃,这样既保证了仪器的灵敏度,又无须使用大流量、高纯度的保护性气流吹扫检测器表面,大大降低了日常运行费用,而且还可避免因环境温度波动带来的干扰。
每一个CCD均有独立的数字信号处理器。双CPU、32通道的高速数据读出系统对信号进行再处理。所有32个CCD,可在2秒内完成全谱信号的采集和运算;每一个像素的积分时间可根据信号强度而自动调整,数据读出系统能以10Hz的频率处理瞬间信号,可与LC.HPLC等联机使用。
快速的数据读出和高达8个数量级的动态范围,能有效消除溢出效应,并可在无须稀释样品的情况下直接进行痕量元素分析。
激发光源
激发光源采用风冷式陶瓷振荡管和高精度固态电源,频率为27.12MHz,输出功率为0.7至1.7KW,保证了SPECTRO
ARCOS的等离子体有异乎寻常的稳定性。
免维护的激发光源无需任何电子或移动元件协助运行,可独立调整共振频率以适应各种样品,在测量各种变化很大的基体时,等离子体也可保持稳定。
相对于40.68MHz,27.12MHz拥有更大的频宽以适应各种基体复杂的样品。
在进行大负荷(如:有机样品等)样品分析时,一般需要消耗很大的功率,但是SPECTRO
ARCOS的高频陶瓷振荡管以及完全由计算机控制的高精度固态电源,可有效降低功率消耗,减少能量损失,提高耦合效率和延长系统寿命。在等候情况下,操作者可选择“待机模式”,以减少功率和氩气的消耗。
等离子体接口
水平观测模式**适合进行痕量元素分析,专利的Optical Plasma Interface
(OPI)接口,能有效提高灵敏度,可获得比垂直观测模式好十倍的检出限。
传统的ICP在水平观测模式时会采用“尾焰切割”或“延长炬管”来消除基体干扰的问题,而OPI则是直接穿透等离子体,把尾焰吹开,彻底消除基体干扰。如果没有OPI,在同时处理各种变化很大的基体时,尤其是在环保方面的样品,会使得等离子体处于不稳定状态,并造成不良影响,例如回收率变差。
借助十多年的实际应用经验,OPI在经过进一步的改进后,简化了维护,并可确保精确定位。
在进行高精度和高准确度分析时,垂直观测模式SPI (Side-On Plasma
Interface)是**佳的选择,它的优点是能够在分析高盐、有机、悬浮状样品时提供更好的精度和准度。
全计算机控制的炬管定位系统,能自动优化OPI接口与等离子体的距离以及SPI接口的观测高度,这些设定可以与其他参数一起随方法保存,并可自动随方法调出使用。
进样系统
样品是通过一个位于仪器右边的四通道蠕动泵进入仪器,这种设计能大幅缩短样品流程和冲洗时间,从而极大地缩短了总分析时间。
利用全计算机控制的冲洗程序和自动进样器的协助,可进一步优化分析时间,对于一些工作量相对很大的分析,例如地质、土壤和油品测试,SPECTRO
ARCOS可轻易完成每天1000个样品的测试。
宽敞和隔热的样品进样室,可以配合不同种类的进样系统,智能化的定位装置设计,使得雾化器和炬管的安装轻而易举,无须费时费力再校准。
冷却氩气、辅助氩气、雾化器氩气和附加氩气完全由软件控制,在方法中这些参数都能单独更改和独立储存,在需要时,自动优化程序会调整各项参数,该功能可让初学者更快掌握仪器的使用。
软件
SPECTRO ARCOS采用的SMART ANALYZER
VISION软件,各项功能一目了然,操作直观、简便,它满足了现代实验室的需求,也可以和LIMS系统结合使用。其它软件功能还包括数据重处理:也就是说更改已存储数据的参数或重选其它谱线,然后再进行分析。
【技术特点对用户带来的好处】-- SPECTRO ARCOS全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪
分析速度快
全波长覆盖,分析范围宽,可分析包括ppm级卤素在内的73个金属和非金属元素
气体流量控制准确
高灵敏度、高精度
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