GEM Compact自动光学检测系统是一款完全创新的轻巧检测方案。安维谱（MVP）的桌上型AOI具有现在配备以前只有在线系统才有的，不可超越的高性能和高分辩率。GEM Compact依靠全面的检测方案，在复杂的检测挑战中有着突破性进展。
安维谱在其所有AOI系统中都使用一种软件平台，并且将在线设备的软件引入到桌上型检测系统GEM Compact上。以MVP向导式的易用型编程软件ePro以及自动优化（Auto-Optimize）向导为特色，使得GEM Compact是一款高性价比、功能强大的解决方案，用于低产量、高混合以及新产品引进（NPI）状况。
拥有在线式AOI性能的桌上型AOI
非常适合于低产量、高混合产品及NPI
屡获殊荣的易用型iPro软件
可用于回流焊前后
程序与在线式AOi兼容
较低的拥有成本
主要特点包括：
只有同类系统一半大小
完整的焊点检测
完全兼容MVP在线检测系统，程序可通用
**佳性价比
专有的飞行检测系统为桌上型设备的检测速度带来了质的飞跃
测试速度：
配置一个140万像素照相机，图像采集速度为34M像素/秒
高达32平方厘米/秒（5平方英寸/秒）检测速度，还取决于板的布局、零件密度及视场范围的大小
系统硬件：
**先进技术的大规格彩色照相机
专利的“飞行”图像采集技术
程序控制不同的LED灯光
视场范围分辨率17微米/像素
可检测0201
系统软件：
以CAD为基础，基于算法库和类型库的编程软件
已证实的高性能、适应性强的算法，具有极高的缺陷检测能力和很低的误报率
完整的网络整合（TCP/IP,NFS协议）
实时统计制程控制（SPC）软件包
生成检测报告的实用程序
检测程序更改追踪
第五代成熟的检测软件
多层测试技术，可调灯光亮度
兼容MVP动态制程控制
物理规格：
外形尺762（L）*610(W)*355(H)mm(30*24*14")
重量55公斤（121磅）
**大板尺寸305*406mm（12*16"）
上方元件容许高度：55mm（2"）
下方元件容许高度：38mm（1.5"）
220-240伏，50/60赫兹交流电，10安培
选件：
用于锡膏和回流焊前检测的低灯
条码扫描仪
黑色照相机
缺陷标签打印机
不间断电源（UPS）