日本J-RAS离子迁移测试装置

商家:: 深圳市世纪天源仪器有限公司
认证:: 普通商家
参考价:: 65000.00元/套

地区:: 广东 - 深圳
类别:: 机械 - 实验设备
品牌:: 日本J-RAS
产地:: 日本
型号:: ECM-100

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产品描述

更新于 2018-06-11 09:45:49 关注度：27 查看商家信息

可对离子迁移绝缘电阻值进行高精度、高信赖性、高效率的评价。

从当今的地球、市场环境来看，省能源、铅/无卤素、小型轻量、低价、高依赖等观点出来的，新素材、新实装方法的研究开发、评价方法的重估是必须的。

简介：离子迁移实验装置是一种依赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（BIAS VOLTAGE），经过长时间的测试（1~1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ION MIGRATION），并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。

详细资料请联系：深圳市世纪天源仪器有限公司

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