电子产品高低温测试箱 应用于电子产品,半导体,二极管,主板芯片其它产品,对电子产品模拟环境温度进行可靠性测试,从而延长电子产品在使用过程中的寿命!
电子产品高低温测试箱结构:
高质感外观,机体采圆弧造型,表面经雾面条纹处理,并采用平面无反作用把手,操作容易,安全可靠。
长方形复层玻璃观视窗,可在试验中进行试验品观察使用,视窗具防汗电熟器装置可防止水气凝结水滴,及高亮度PL萤光灯保持箱内照明。
具有测试孔可外接测试电源线或信号线及上下可调整置物盘。箱门双层隔绝气密迫紧,可有效隔绝内部温度泄漏。
具可外接式供水系统,方便於补充加湿桶供水,并自动回收使用。
电子产品高低温测试箱性能
解析精度: 温度:±0.01℃;湿度:±0.1%R.H
温度范围: -40℃ ~ +150℃
温度波动度: ±0.5℃;
温度均匀度: ±1.5℃;
极限低温: -40℃;
升温速率: 2℃-4℃/min(从**低温升到**高温、非线性空载);
降温速率: 0.7℃-1℃/min(从**高温降到**低温、非线性空载);
湿度范围: 20%~98%R.H;
湿度波动度: ±2.0%R.H.;
电子产品高低温测试箱控制系统
控制器: 进口日本“富士”微电脑温湿度集成控制器
精度范围: 温度±0.1℃
温度传感器 :铂金电阻 PT100Ω
加热系统: 镍铬合金电加热式加热器
制冷系统: 全封闭风冷单级压缩制冷/原装法国“泰康”/全封闭风冷复叠压缩制冷
循环系统 :耐高温低噪音离心式电机,多叶式离心风轮
Tel: