成都芯片测试高低温测试箱

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更新于 2024-04-03 09:34:21 关注度：27 查看商家信息

快速温度变化试验箱

概述：

NLGDKS-L系列快速温度变化试验箱适用于电子元器件、芯片、零部件、线缆、塑胶材料等产品、半成品，进行高温、低温、高低温循环及温度筛选（ESS）试验。

NLGDKS-L系列快速温度变化试验箱采用触摸屏加PLC编程模块组成控制系统，控制稳定、可靠、功能齐全。通过显示屏可显示、设定记录实验实时运行温（湿）度曲线，通过上位机软件可远程控制管理。

NLG70DKS-L快速温度变化试验箱选型表

常规型号			NL40DKS
			80L	150L	252L	392L	576L	1000L
内部尺寸	深mm		400	500	600	700	800	1000
	宽mm		400	500	600	700	800	1000
	高mm		500	600	700	800	900	1000
外部尺寸	深mm		950	1050	1150	1250	1350	1450
	宽mm		650	750	850	950	1050	1250
	高mm		1650	1750	1750	1750	1850	2050
性能指标	温度范围		-70～150℃
	温度指标		波动度≤1℃，温度偏差≤±2℃
	升温时间		-55～85℃≤28min(5℃)、≤14min(10℃)、≤10min(15℃)
	降温时间		85～-55℃≤28min(5℃)、≤14min(10℃)、≤10min(15℃)
结构材质	外壳材质		冷轧钢板静电喷粉（白色）
	内胆材质		不锈钢板
	保温材质		硬质聚氨酯发泡+超细玻璃纤维
制冷系统	制冷方式		压缩机机械制冷方式
	制冷机组		“Tecumset”、“Bitzer”、“Dorin”、“Copeland”
	换热方式		风冷			水冷
观察窗			300×400mm（宽×高）			300×500mm（宽×高）
测试孔			?50mm			?100mm
数据储存与扩展接口			可选SD卡、RS485、USB
装机功率	Kw		11～18	12～21	13～25	15～35	18～65	22～75
	电源要求	380V±10%，50HZ±1，三相四线+接地线，保护接地电阻＜4Ω
环境条件	水冷设备		需满足：进水水温１℃→2５℃，压力0.４MPa～0.６MPa
满足标准	GJB 150.3、GJB 150.4、GJB 150.9、GB/T2423.(1-4)
声明: 除以上所列规格外，可根据用户要求进行非标准产品设计、制造。因产品更新导致的参数、外观更改，恕不另行通知。

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