本系列高低温冲击试验箱适用于电工电子产品,电子零部件的冷热交替冲击试验。产品可
满足CNS、MIL、IEC、JIS、GB/T2423.5-1995、GJB150.5-87等标准
型号:ZB-TC-150D
性能:指风冷式在室温+25℃,空载时.
1.试验槽温度使用范围:-70℃-- +150℃.
2.高温槽温度设定范围:+60℃-- +200℃.
3.高温槽升温时间RT(室温)-- +200℃约需45min(室温在+10--
+30℃时).
4.低温槽温度设定范围:-70℃-- -10℃.
5.低温槽降温时间RT(室温)-- -70℃约需70min(室温在+10--
+30℃时).
6.温度波动度:±1.0℃.
7.温度均匀度:±2.0℃.
8.冲击归复时间:-70-- +200℃
约需 5min(塑料IC负载1.5KG).
※高低温冲击恒温时间各为30min以上※
结构:
1.内部尺寸: W50×H60×D50㎝.
3.外箱材质: 沙纹不锈钢板(SUS#304).
b.低温槽:高密度PU发泡.
冷冻系统:
2.冷媒: R404A**新环保冷媒.
日本OYO液晶显示触控式莹幕直接按键型控制器,中英文表示5.7”图形之广视角,高对比附可调背光功能之大型LCD液晶显示控制器.
控制器规格:a.精度:温度±0.1℃+1digit.
b.分辨率:温度±0.1.
c.具有上下限待机及警报功能.
d.温度入力信号 T型.
我厂免费送货上门服务,免费保修一年,在保修期内如因产品质量问题发生故障将免费维修,产品终身服务并提供配件及易损件。
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