测试项目

技术指标

1.外观质量

内外壁实体应平整、均匀光滑、无坑凹及杂质形成的缺陷；外观颜色均匀一致、无分解变色线及斑点；截面无气泡、裂口；硅芯内壁紧密熔结、无开脱现象；外壁上产品标识完整、清楚。

2.环刚度，KN/m2

≥40

3.扁平试验

垂直方向加压至外径变形量为原外径的40%时，立即卸荷，试样不破裂、不分层。

4.复原率

垂直方向加压至外径变形量为原外径的30%时，立即卸荷，试样不破裂、不分层，外径能自然恢复到原来的90%以上。

5.拉伸强度,Mpa

≥21

6.断裂伸长率,%

≥350

7.**大牵引负载,N

≥8000

8.落锤冲击试验

温度0℃，高度2m，用2Kg重锤冲击10次，应9次以上无开裂现象。

9.外壁硬度，HD

≥59

10.耐水压密封试验

温度20℃，压力50Kpa条件下，保持24小时，试样的连接头、管塞无渗漏。

11.纵向回缩率，%

≤3

12.冷弯曲半径,mm

≤400

13.内壁摩擦系数

静态（平板法）

≤0.25

动态（圆鼓法）

≤0.15

14.工频击穿强，KV/mm

≥15

15.耐化学腐蚀性

将试样分别置于5%的NaCL、40%H2SO4、40%NaOH溶液中浸泡24小时，无明显被腐蚀现象。

16.抗裂强度，MPa

≥2.0

光缆外径（MM）

11以下

12

12.5

13.5

14

15

16

硅管内径（MM）

24

26/28

26/28

26/28

28/33

33

33

光缆外径（MM）

24

25

26

28

30

36

硅管内径（MM）

42/50

42/50

50/55

50/55

50/55

50/55