蒸气加速老化寿命试验箱适用范围：
适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。
特点简介：
l 内、外均采用SUS#304不锈钢材质。
l 水位控制，自动补水；
l 高温保护、过流保护；
l 加热方式：PID＋S.S.R；
l 温度范围；室度＋20—98度；（注：温度可调）
l 温控器：PID微电脑控制；
l 计时器：具有计时、恒温功能中，温到计时、时间到切断加热电源；
l 控制精度：±1℃；
l 可按要求设计单槽或三槽。
