美国博曼膜厚测试仪是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。高分辨硅-PIN-探测器,配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.
可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等.
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金.
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金.
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等.
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
此仪器特别适合于小的镀层测量,如端子,连接器,细小的金线,在五金,汽车配件.线路板.卫浴,等行业.也有杰出的表现.可测量.单层.双层,合金层等多种镀层.
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