Testram RFID综合测试仪T8200UD
RFID综合测试仪T8200UD是针对近场非接触式IC卡、天线（基于ISO/IEC14443 Type A，Type B，ISO/IEC18092 Passive Mode即Type C索尼的Felica卡），以及非接触IC卡（ISO/15693Tag-It，I-CODE SLI)，IC标签的共振频率，Q值和插入损耗（insertion loss）进行检测，根据设定值判定待测物PASS/FAIL的设备。
检测频率：500KHz ～ 300MHz
测定项目：不同的制品，通过制作对应的检测天线，可以检查各式制品
○ 共振频率 ○非接触式IC卡
○ 衰减量 ○NFC搭载的制品
○ Q值 ○着装芯片之前的RFID天线
通过设定各个待测项目的设定值进行检测，并可以通过保存测量特性波形及测定值，管理RFID产品的品质。
