LET-2000D系列是力钛科公司开发出的满足IEC60747-8/9标准的半导体动态参数分析系统。旨在帮助工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、PCB设计等需要半导体动态参数的场景所遇到的困难。特别对于第三代半导体的测试,LET-2000D有着较高的系统带宽和测试精度,可以有效准确的测量出实际的器件参数。
硬件优势>>>
■ 采用LECROY 12bit示波器,测试结果更准确
■ 高带宽的电压探测,能满足SIC/GAN的测量要求
■ 可以满足上/下管同时测试,避免频繁连接探头
■ 电压覆盖范围宽、并可以再次扩展
■ 器件驱动设计支持SIC/GAN器件
■ 可根据客户需求定制
■ 可以增加器件的温度特性测试
■ 硬件可以升级自动机械手
软件特点>>>
■ 测量参数齐全:开关参数、反向恢复参数、短路参数、雪崩测试
■ 支持器件类型多:单管/模块,MOSFET、IGBT
■ 离线数据分析:既可以在线测量,也可
■ 以记录数据离线分析
■ 测试方式:单脉冲、多脉冲
■ 可灵活设置测试项目
■ 软件具有较强的扩展能力
■ 测量项目及器件支持扩展
参数系统>>>
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名称 |
说明 |
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采集带宽 |
500 M Hz/1 GHz |
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采样率 |
10 Gsa/S |
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系统电压 |
DC—2000V/6000V |
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电压输出精度 |
±0.2% |
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电流 |
300A—3000A |
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短路电流 |
2000A—10000A |
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测量精度 |
2% |
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驱动电压范围 |
±20V |
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测量参数 |
Vce/Vds、Ic/Id、Vgs/Vge、toff、td(off)、tf(Ic)、Eoff、Ton、 td(on)、tr(Ic)、Eon、dI/dt、dv/dt、Err、Qrr、trr、Irr等 |
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测量项? |
开关参数、反向恢复参数、短路参数、雪崩能量测试 |
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测量器件 |
单管/模块，MOSFET、IGBT、FWD |
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脉宽 |
20ns-1000us. |
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脉冲数 |
单脉冲、2-5脉冲 |
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测量标准 |
IEC60747-8、IEC60747-9、JEDEC JEP173 |
