法国Phasics 公司的产品基于其波前测量专利技术，即4 波横向剪切干涉技术。（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上，这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围**结合在了一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。

SID4: 一款紧凑型的波前传感器

SID4 波前传感器体积小巧，结合了传统的剪切干涉的优势，

安装使用简单。产品的优势在于4 波横向剪切干涉技术

（基于改善后的哈特曼衍射遮挡板）。SID4 是测量光束特性

的必要工具，在光学测量方面有着许多应用。

波长范围：350-1100nm

分辨率高（160*120）

消色差

测量稳定性高

对震动不敏感

SID4 HR:高分辨率波前传感器

SID4-高分辨率波前传感器可应用于光学测量领域。其可实现300x400  个测量点的相位图，保证了高精度测量，可用于对各种光学器件的测量，如透镜，物镜，球面镜，微透镜特征测量等

波长范围：400-1100nm

高性能的相机，信噪比高

实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000 个测量点）

曝光时间极短保证动态物体测量

SID4bio：波前传感器

SID4bio 波前传感器是基于其全新的专利技术‐4 波横向剪切干涉技术。（4‐Wave Lateral Shearing Interferometry）。可同时定量的测试物样品内部的基本相位改变和生强度。

SID4bio 是**款拥有灵敏性测试的紧凑型相位成像仪。

SID4 UV-HR: 高分辨紫外波前传感器

波前测量波长范围从190nm 到400nm。SID UV-HR 是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器，SID4 UV-HR 非常适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测…）。

高分辨率（250*250）

通光孔径大（8.0mm*8.0mm）

覆盖紫外光谱

灵敏度高（0.5um）

优化信噪比

SID4 NIR 是一款覆盖近红外范围（1.5um-1.6um）的高分辨率波前传感器。用于光学测量，SID4 NIR 是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF 和焦距及表面质量的理想工具。高分辨率（160*120）**测量；快速测量；对于振动不敏感；性价比高

SID4 DWIR: 高分辨、双波段红外波前传感器

业界**款高分辨率双波段红外波前传感器(from 3 μm to 5 μm and from 8 μm to 14 μm)

光学测量：SID4 DWIR 是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。

光束测量：（CO2 激光器，红外OPO 激光光源等等）SID4 DWIR 提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等）

高分辨率（96*72）

可实现**测量

可覆盖中红外和远红外波段

大数值孔径测量，无需额外中转透镜

快速测量

对振动不敏感

可实现离轴测量

性价比高