可对离子迁移?绝缘电阻值进行高精度?高信赖性?高效率的评价。
从当今的地球?市场环境来看,省能源?铅/无卤素?小型轻量?低价格?高信赖等观点出发的,
新素材?新实装方法的研究开发?评价方法的重估是必须的。
J-RAS公司把握市场的需要,为您提供容易操作而且可以进行高信赖性评价试验的,
新时代离子迁移实验装置 ECM-100系列。
简介:离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流
电压(BIAS VOLTAGE),经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的
现象发生(ION MIGRATION),并记录阻抗变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,或者是OPEN/SHORT试验,我们将其统称为绝缘劣化试验。(ION MIGRATION TESTING)
适用规格:JPCA-ET01-2001
项目 |
规格?性能?其他 |
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筺 体 |
型式 |
ECM-100/40-n (n:Channel数) |
ECM-100/100-n (n:Channel数) |
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筺体型式 |
40CH型(**大4计测组合) |
100CH型(**大10计测组合) |
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筺体寸法 |
265W×330.3D×405H(突起部除外) |
417.4W×330.3D×405H(突起部除外) |
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消費电力 |
大约70VA(4计测组合实装時) |
大约130VA(10计测组合实装時) |
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重量 |
大约16kg(4计测组合实装時) |
大约25kg(10计测组合实装時) |
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使用电源 |
AC100V 50/60Hz |
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计测 组合 |
计测Channel数 |
10CH |
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计测电阻值范围 |
2kΩ~10TΩ |
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DCbias印加 |
电压范围 |
2范围 (1.0~30.0V,30.1~300.0V) |
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电压范围设定 |
1组(5CH) |
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电压级别设定 |
Channel个别 |
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设定分解能 |
0.1V |
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设定精度 |
±〔0.3%(F.S.)+0.5〕V |
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**大输出电流 |
700μA/CH |
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DCbias计测 |
计测范围 |
2范围(0~33V、0~330V) |
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计测精度 |
±〔0.3%(F.S.)+0.5〕V |
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计测分解能 |
0.1V~(整数+小数点以下1行表示) |
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AD转换器 |
24bits⊿∑AD转换器/CH |
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计测速度 |
16msec/10CH |
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电流计测 |
计测方式 |
CHANNEL个别HIGH-SIDE电流计测方式 |
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计测范围 |
5范围(~500μA,~50μA,~2.5μA,~125nA,~6.25nA) |
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计测范围设定 |
CHANNEL个别指定 或者 自动范围 |
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计测精度 |
±0.3%(F.S.) |
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计测分解能 |
1pA~(有効数字4行表示) |
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AD转换器 |
24bits⊿∑AD转换器/CH |
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计测速度 |
16msec/100CH |
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C P U 组合 |
制御Channel数 |
5~100CH(5Channel単位) |
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数据收录 |
试验制御単位 |
1组(5CH) |
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试验设定小时 |
1分~9999小时 |
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收录间隔(定期) |
1分~60分 |
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收录间隔(ECM发生時) |
16msec |
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记录媒体 |
Compact flashcard |
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其他 |
主PC通信机能 |
LAN接触口×1 |
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环境试验机通信机能 |
RS-232C接触口×2 |
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外部输入1 |
接点输入×4 (联动装置,紧急停止制御可) |
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外部输入2 |
电压输入(1-5V)×2,电流输入(4-20mA)×2 (温度?湿度记录可) |
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自动校正 |
bias输出補正,異常leak电流检测 |
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计测线 |
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