美国BOWMAN X-RAY 設備遵循ASTM B568， DIN 50 987和ISO 3497
等國家和國際標準，主要基於鍍層厚度測量和材料分析的X-射線系統。採用全新數學計算方法,採用**新的FP (Fundamental
Parameter）強大的電腦功能 來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟體功能之下，簡化了測量比較複雜鍍層的程式。
（1）、配置硬件革新：
采用半导体接收器，分辨率较传统品牌比例接收品提高数倍,较传统X-RAY精确度提高了50%以上，
在测试薄金（Au)方面表现更为突出。
（2）、超常保固期：2年（24个月），较其它品牌整机延长一倍；
（3）、前沿的测量技术：所有产品均为美国原装进口，
超低的售价：相对于其它品牌同档次的机型售价降低了50%
电镀膜厚测试仪X射线荧光分析是快速非破坏性的检测方法,操作简便,准确度高,分析范围广.它已在科学研究、地质、冶金以及其它各部门,得到了广泛的应用,并成为一种重要的分析手段.实验系数法和基本参数法是近十几年发展起来的荧光X射线分析方法.它是借助于电子计算机来完成的,已逐步地用来测定复合物的含量和薄膜的厚度,并得到了良好的效果。
电镀膜厚测试仪采用X
光管作X射线源，其能量和强度连续可调，可保证在测量范围内的每个厚度都达到**佳测量精度。
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