* 测量镀层,
涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从17(Cl)到92(U);
* 5 层 (4 镀层 + 基材) / 24 元素 / 共存元素校正;
* 组成成分分析时可同时测定24种元素;
* 镀液中元素含量分析;
* 元素光谱定性分析;
* 基材分析;
制造商：美国BOWMAN公司
原产地：美国
型 号：BA 100
x-ray膜厚测试仪X射线荧光分析是快速非破坏性的检测方法,操作简便,准确度高,分析范围广.它已在科学研究、地质、冶金以及其它各部门,得到了广泛的应用,并成为一种重要的分析手段.实验系数法和基本参数法是近十几年发展起来的荧光X射线分析方法.它是借助于电子计算机来完成的,已逐步地用来测定复合物的含量和薄膜的厚度,并得到了良好的效果。
x-ray膜厚测试仪采用X
光管作X射线源，其能量和强度连续可调，可保证在测量范围内的每个厚度都达到**佳测量精度。
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